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MARC状态:审校  文献类型:中文图书 浏览次数:13 

题名/责任者:
数字逻辑电路测试与设计/李玲主编
版本说明:
2版
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-111-44426-8/CNY23.90
载体形态项:
157页;26cm
个人责任者:
李玲 (职业教育) 主编
学科主题:
数字电路-逻辑电路-测试技术-高等职业教育-教材
学科主题:
数字电路-逻辑电路-电路设计-高等职业教育-教材
学科主题:
数字电路
学科主题:
逻辑电路
学科主题:
测试技术
学科主题:
电路设计
中图法分类号:
TN79
中图法分类号:
TN79
一般附注:
全国高等职业教育规划教材
提要文摘附注:
本书阐述了逻辑代数的基本知识,介绍了了TTL和CMOS集成门电路的特点、使用注意事项及其接口电路,介绍了组合逻辑电路分析与设计的基本方法、常用中规模集成电路的逻辑功能和使用方法,讲解了触发器的基本知识、简单时序电路的分析和设计方法、集成计数器和寄存器的基本知识,最后介绍了模/数、数/模转换电路转换元器件的基本知识。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 附件 说明 书刊状态 还书位置
TN79/60 000664586  - 密集书库 图书定位    非可借 密集书库
TN79/60 000664587  - 六楼书库 图书定位    可借
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