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Online Public Access Catalogue

题名/责任者:

公差与测量技术/主编姜明灿, 张正祥, 吴水萍

出版发行项:

武汉:华中科技大学出版社,2006

ISBN及定价:

7-5609-3848-5/CNY18.50

载体形态项:

177页:图;26cm

丛编项:

21世纪高职高专机电系列规划教材

个人责任者:

姜明灿 主编

个人责任者:

张正祥 主编

个人责任者:

吴水萍 主编

学科主题:

公差-配合

学科主题:

公差-技术测量

中图法分类号:

TG801

书目附注:

有书目

提要文摘附注:

本书内容包括：测量技术基础；尺寸公差与检测；形位公差与检测；表面粗糙度与检测；圆锥和角度公差与检测等。

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