MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：34
- 题名/责任者:
- CMOS集成电路闩锁效应/温德通编著
- 出版发行项:
- 北京:机械工业出版社,2020.3
- ISBN及定价:
- 978-7-111-64587-0/CNY99.00
- 载体形态项:
- xvi, 230页:图 (部分彩图);25cm
- 丛编项:
- IC工程师精英课堂
- 个人责任者:
- 温德通 编著
- 学科主题:
- CMOS电路-静电防护-电路设计
- 中图法分类号:
- TN432.02
- 中图法分类号:
- TN432
- 责任者附注:
- 温德通, 资深ESD设计工程师, 毕业于西安电子科技大学科技大学微电子学院, 从事集成电路工艺制程整合, 器件、闩锁效应和ESD电路设计方向工作十余年。目前已出版图书《集成电路制造工艺与工程应用》和《CMOS集成电路闩锁效应》。
- 提要文摘附注:
- 本书通过具体案例和大量彩色图片, 对CMOS集成电路设计与制造中存在的闩锁效应 (Latch-up) 问题进行了详细介绍与分析。在介绍了CMOS集成电路寄生效应的基础上, 先后对闩锁效应的原理、触发方式、测试方法、定性分析、改善措施和设计规则进行了详细讲解, 随后给出了工程实例分析和寄生器件的ESD应用, 为读者提供了一套理论与工程实践相结合的闩锁效应测试和改善方法。
- 使用对象附注:
- 本书面向从事微电子、半导体集成电路行业的朋友, 同时也适合相关专业的本科生和研究生阅读
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