MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：23
- 题名/责任者:
- 嵌入式RAM的优化设计及前后端关键技术研究/周清军著
- 出版发行项:
- 西安:西北工业大学出版社,2016
- ISBN及定价:
- 978-7-5612-4946-8/CNY40.00
- 载体形态项:
- 159页:图;27cm
- 丛编项:
- 西安培华学院学术文库
- 个人责任者:
- 周清军 (1976~) 著
- 学科主题:
- 存贮器-最优设计-研究
- 中图法分类号:
- TP333
- 提要文摘附注:
- 本书主要针对嵌入式RAM的前端优化设计及后端关键技术进行分析讲解。内容包括：芯片测试技术、嵌入式RAM的前端高成品率优化设计、嵌入式RAM的前端低功耗优化设计等。
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