MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：22
- 题名/责任者:
- 芯片封装与测试/关赫，龙绪明，李锋主编
- 出版发行项:
- 西安:西北工业大学出版社,2022.11
- ISBN及定价:
- 978-7-5612-8211-3/CNY39.00
- 载体形态项:
- 172页;26cm
- 个人责任者:
- 关赫 主编
- 个人责任者:
- 龙绪明 主编
- 个人责任者:
- 李锋 主编
- 学科主题:
- 集成芯片-封装工艺
- 学科主题:
- 集成芯片-测试
- 中图法分类号:
- TN43
- 提要文摘附注:
- 本书全面介绍了集成电路芯片的封装工艺，内容包括集成电路芯片封装概述、封装材料、封装工艺流程、印制电路板、元器件与电路板的接合、先进的微电子封装技术、封装的设计方法(电气设计、热设计、机械设计等)、封装的可靠性及可靠性衡量、封装的失效及失效分析、无源器件封装技术、射频微波芯片封装技术、电力电子芯片封装技术、mMeMs和MOEMS封装技术。本书紧密结合封装工艺，内容全面系统，实用性强。
- 使用对象附注:
- 本书可作为高等院校微电子技术相关专业的课程教材，也可作为电子制造工程师的参考书和微电子封装企业职工教育培训教材
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