MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：6
- 题名/责任者:
- Digital integrated circuits:a design perspective/(美) Jan M. Rabaey, Anantha Chandrakasan, Borivoje Nikolic著
- 版本说明:
- 影印版
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-121-15889-6/CNY89.00
- 载体形态项:
- 20, 761页:图;24cm
- 并列正题名:
- 数字集成电路:电路、系统与设计
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 拉贝艾 (Rabaey, Jan M.) 著
- 个人责任者:
- 钱德卡桑 (Chandrakasan, Anantha) 著
- 个人责任者:
- 尼克里克 (Nikolic, Borivoje) 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-高等学校-教材-英文
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 出版发行附注:
- 本书英文影印版专有出版权由Pearson Education (培生教育出版集团) 授予电子工业出版社
- 责任者附注:
- 责任者Rabaey规范汉译姓: 拉贝艾 ; 责任者Chandrakasan规范汉译姓: 钱德卡桑 ; 责任者Nikolic规范汉译姓: 尼克里克
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 原作版本附注:
- 影印自: 原书第2版
- 提要文摘附注:
- 本书分三部分：基本单元、电路设计和系统设计。在对MOS器件和连线的特性做了简要介绍之后，深入分析了反相器，并逐步将这些知识延伸到组合逻辑电路、时序逻辑电路、控制器、运算电路及存储器这些复杂数字电路与系统的设计中。本书以0.25微米CMOS工艺的实际电路为例，讨论了深亚微米器件效应、电路最优化、互连线建模和优化、信号完整性、时序分析、时钟分配、高性能和低功耗设计、设计验证、芯片测试和可测性设计等主题，着重探讨了深亚微米数字集成电路设计面临的挑战和启示。
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