检索到 7 条 责任者=恩云飞 的结果
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中文图书1.电子微组装可靠性设计,应用篇 TN605/18
馆藏复本：1
可借复本：1 工业和信息化部电子第五研究所组编
电子工业出版社 2022.3
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中文图书2.电子微组装可靠性设计,基础篇 TN605/16
馆藏复本：1
可借复本：1 何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著
电子工业出版社 2020.09
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中文图书3.电子元器件失效分析技术 TN6/70
馆藏复本：1
可借复本：0 恩云飞，来萍，李少平编著
电子工业出版社 2015.10
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中文图书4.可靠性物理 TN6/69
馆藏复本：1
可借复本：1 恩云飞，谢少锋，何小琦编著
电子工业出版社 2015.10
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中文图书5.电子产品的故障预测与健康管理:应用构架与实践 TN02/19
馆藏复本：2
可借复本：1 孔学东, 恩云飞, 陆裕东等著
电子工业出版社 2013
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中文图书6.MEMS可靠性 TN4/47
馆藏复本：1
可借复本：1 (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著
电子工业出版社 2012
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中文图书7.电子元器件失效分析与典型案例 TN6/5
馆藏复本：3
可借复本：3 孔学东, 恩云飞主编
国防工业出版社 2006
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