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中文图书1.数字集成电路测试及可测性设计 TN431.2/22
馆藏复本:1
可借复本:1 张晓旭, 张永锋, 山丹编著
化学工业出版社 2024
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中文图书2.网络安全渗透测试与防护 TP393.08/513
馆藏复本:1
可借复本:1 王立进, 张宗宝, 张镇编著
电子工业出版社 2024.11
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中文图书3.人类的误测:智商歧视的科学史 B841.7/44
馆藏复本:1
可借复本:1 (美) 斯蒂芬·杰伊·古尔德著
重庆大学出版社 2017.3
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中文图书4.物联网安全渗透测试技术 TP393.4/913
馆藏复本:1
可借复本:1 许光全 ... [等] 著
机械工业出版社 2024.01
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中文图书5.软件测试基础教程 TP311/701
馆藏复本:1
可借复本:1 高尚兵, 高丽主编
北京工业大学出版社 2023.04
(0) 馆藏 -
中文图书6.软件测试与质量保证 TP311.5/519
馆藏复本:1
可借复本:1 主编王智钢
大连理工大学出版社 2024
(0) 馆藏 -
中文图书7.软件测试技术.第3版 TP311/697=3
馆藏复本:1
可借复本:1 主编范勇 ... [等]
西安电子科技大学出版社 2024
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中文图书8.电气测试技术 TM93/55
馆藏复本:2
可借复本:2 主编魏颖, 张文静, 郭鲁
北京理工大学出版社 2021.08
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中文图书9.人类的误测:智商歧视的科学史 B841.7/38
馆藏复本:2
可借复本:2 (美) 斯蒂芬·杰伊·古尔德著
重庆大学出版社 2017
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中文图书10.智商测试:一段闪光的历史,一个失以的点子.第2版 B84/611
馆藏复本:3
可借复本:3 (美) 斯蒂芬·默多克著
生活·读书·新知三联书店 2016.3
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中文图书11.现代软件测试技术之美
馆藏复本:0
可借复本:0 茹炳晟, 吴骏龙, 刘冉编著
人民邮电出版社 2024.5
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中文图书12.工业机器人性能测试技术
馆藏复本:0
可借复本:0 祖洪飞 ... [等] 著
浙江大学出版社 2019.9
(0) 馆藏 -
中文图书13.软件单元测试入门与实践
馆藏复本:0
可借复本:0 周立功, 喻永和主编
北京航空航天大学出版社 2023.1
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中文图书14.软件测试之困:测试工程化实践之路 TP311.5/516
馆藏复本:1
可借复本:1 肖利琼著
人民邮电出版社 2023.3
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中文图书15.测试设计思想 TP311.5/515
馆藏复本:1
可借复本:1 周海旭编著
清华大学出版社 2023.7
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中文图书16.软件测试项目实训 TP311.5/510
馆藏复本:1
可借复本:1 于艳华, 孙佳帝主编
电子工业出版社 2023.2
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中文图书17.软件测试与质量保证 TP311.5/509
馆藏复本:1
可借复本:1 高静, 张丽, 陈俊杰, 朝鲁蒙编著
清华大学出版社 2022.6
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中文图书18.企业级性能测试实战从入门到精通 TP311.56/921
馆藏复本:1
可借复本:1 柠檬班著
天津科学技术出版社 2023.5
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中文图书19.芯片封装与测试 TN43/36
馆藏复本:1
可借复本:1 关赫,龙绪明,李锋主编
西北工业大学出版社 2022.11
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中文图书20.FPGA软件测试技术
馆藏复本:0
可借复本:0 罗文兵主编
电子工业出版社 2022.08
(0) 馆藏
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