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检索到 2 条 题名=集成电路开发与测试 的结果    

 


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  1. 中文图书1.集成电路开发与测试,初级 TN402/46

    馆藏复本：1
    可借复本：1     主编吕坤颐, 夏敏磊
    高等教育出版社 2021.01
    (0) 馆藏

  2. 中文图书2.集成电路开发与测试,中级 TN402/45

    馆藏复本：1
    可借复本：1     主编居水荣, 夏敏磊
    高等教育出版社 2020.12
    (0) 馆藏

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