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• 010 __ |a 978-7-03-044221-5 |d CNY32.00

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• 200 1_ |a 半导体物理与器件实验教程 |A Ban Dao Ti Wu Li Yu Qi Jian Shi Yan Jiao Cheng |f 刘诺,任敏著

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2015.07

• 215 __ |a 192页 |d 21cm

• 225 2_ |a 电子信息材料与器件系列规划教材 |A Dian Zi Xin Xi Cai Liao Yu Qi Jian Xi Lie Gui Hua Jiao Cai

• 330 __ |a 本书中的实验均用于说明和演示半导体物理和微电子器件的基本原理，适合不同大专院校的师生使用。全书分上下两篇，上、下两篇既独立成篇又互为联系，隶属于微电子相关专业的知识体系，其中每篇又由“基础知识”和“实验”两部分构成。上篇为“半导体物理实验”，分别为构建晶体结构、仿真与分析晶体电子结构、单波长椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率、四探针测试半导体电阻率、霍耳效应实验、高频光电导法测少子寿命、肖特基二极管的电流-电压测试分析、肖特基二极管的势垒高度和半导体的杂质浓度的测试分析、MIS的高频C-V测试。

• 333 __ |a 可为高校电子信息类专业教材。

• 410 _0 |1 2001 |a 电子信息材料与器件系列规划教材

• 690 __ |a O47-33 |v 5

• 690 __ |a O47 |v 4

• 701 _0 |a 刘诺 |A Liu Nuo |4 著

• 701 _0 |a 任敏 |A Ren Min |4 著

• 801 _0 |a CN |b WXCSXY |c 20151229

• 905 __ |a WXCSXY |d O47/15