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• 001 0000239825

• 005 20130812160600.0

• 010 __ |a 978-7-121-18805-3 |d CNY55.00

• 100 __ |a 20130106d2012 em y0chiy0120 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak a 001yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a MEMS可靠性 |A MEMS Ke Kao Xing |d = MEMS Reliability |f (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著 |g 恩云飞, 贾玉斌, 黄钦文译 |z eng

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2012

• 215 __ |a 13, 220页 |c 图 |d 26cm

• 225 2_ |a 国外电子与通信教材系列 |9 guo wai dian zi yu tong xin jiao cai xi lie |A Guo Wai Dian Zi Yu Tong Xin Jiao Cai Xi Lie

• 306 __ |a 本书简体中文专有翻译出版权由Springer Science+Business Media授权

• 314 __ |a 责任者Hartzell规范汉译姓: 哈策尔 ; 责任者Silva规范汉译姓: 席尔瓦 ; 责任者Shea规范汉译姓: 谢伊.

• 320 __ |a 有书目和索引

• 330 __ |a 本书是关于MEMS可靠性的一本专著，主要内容包括：用于寿命预测的可靠性统计理论，MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式，MEMS在使用中的失效模式，MEMS的失效根源及分析，MEMS的试验和鉴定标准，以及提升MEMS可靠性的工具和技术。本书的几位作者在MEMS可靠性方面拥有多年的学术研究经验和工业生产经验，所写内容具有较高的参考价值。

• 333 __ |a MEMS领域的本科生、研究生

• 410 _0 |1 2001 |a 国外电子与通信教材系列

• 500 10 |a MEMS Reliability |m Chinese

• 606 0_ |a 微电子技术 |9 wei dian zi ji shu |A Wei Dian Zi Ji Shu |x 可靠性 |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TN4 |v 5

• 690 __ |a TN4 |v 4

• 701 _1 |a 哈策尔 |9 ha ce er |A Ha Ce Er |g (Hartzell, Allyson L.) |4 著

• 701 _1 |a 席尔瓦 |9 xi er wa |A Xi Er Wa |g (Silva, Mark G. da) |4 著

• 701 _1 |a 谢伊 |9 xie yi |A Xie Yi |g (Shea, Herbert R.) |4 著

• 702 _0 |a 恩云飞 |9 en yun fei |A En Yun Fei |4 译

• 702 _0 |a 贾玉斌 |9 jia yu bin |A Jia Yu Bin |4 译

• 702 _0 |a 黄钦文 |9 huang qin wen |A Huang Qin Wen |4 译

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20130106

• 905 __ |a WXCSXY |d TN4/47