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• 200 1_ |a 电子元器件失效分析技术 |A Dian Zi Yuan Qi Jian Shi Xiao Fen Xi Ji Shu |9 dian zi yuan qi jian shi xiao fen xi ji shu |f 恩云飞，来萍，李少平编著 |g 工业和信息化部电子第五研究所组编

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015.10

• 215 __ |a 472页 |c 图表 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A Ke Kao Xing Ji Shu Cong Shu

• 330 __ |a 本书是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。

• 333 __ |a 适用于相关专业人员参考。

• 461 _0 |1 2001 |a 可靠性技术丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |A Dian Zi Yuan Jian |x 失效分析

• 606 0_ |a 电子器件 |A Dian Zi Qi Jian |x 失效分析

• 690 __ |a TN6 |v 4

• 701 _0 |a 恩云飞 |A En Yun Fei |9 en yun fei |4 编著

• 701 _0 |a 来萍 |A Lai Ping |9 lai ping |4 编著

• 701 _0 |a 李少平 |A Li Shao Ping |9 li shao ping |4 编著

• 712 02 |a 工业和信息化部电子第五研究所组 |A Gong Ye He Xin Xi Hua Bu Dian Zi Di Wu Yan Jiu Suo Zu |4 编

• 801 _0 |a CN |b WXCSXY |c 20170106

• 905 __ |a WXCSXY |d TN6/70