机读格式显示(MARC)

• 000 00862nam0 2200253 450

• 001 0000255517

• 005 20131118210800.0

• 010 __ |a 978-7-5124-0022-1 |d CNY45.00

• 100 __ |a 20100324d2010 em y0chiy0120 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 光电测试技术与系统 |A guang dian ce shi ji shu yu xi tong |f 张广军主编

• 210 __ |a 北京 |c 北京航空航天大学出版社 |d 2010

• 215 __ |a 383页 |c 图 |d 23cm

• 300 __ |a 普通高校“十一五”规划教材

• 330 __ |a 本书系统介绍了光电测试的基本原理、方法及系统。主要内容包括光电测试用光源、光电探测器件、激光干涉测量、激光衍射测量、典型光电测试系统等。

• 606 0_ |a 光电检测 |A guang dian jian ce |x 高等学校 |j 教材

• 690 __ |a TP274 |v 5

• 690 __ |a TP274 |v 4

• 701 _0 |a 张广军 |A zhang guang jun |4 主编

• 801 _0 |a CN |b 江苏新华 |c 20100915

• 905 __ |a WXCSXY |d TP274/64