MARC状态：审校 文献类型：中文图书 浏览次数：16
- 题名/责任者:
- 现代电子系统软错误/(法)Michael Nicolaidis主编 韩郑生，毕津顺译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2016.07
- ISBN及定价:
- 978-7-121-29097-8/CNY59.00
- 载体形态项:
- 16,240页:图;26cm
- 丛编项:
- 国防电子信息技术丛书.集成电路辐射效应与加固技术
- 个人责任者:
- (法) 尼古拉季斯 (Nicolaidis, Michael) 主编
- 个人次要责任者:
- 韩郑生 译
- 个人次要责任者:
- 毕津顺 译
- 学科主题:
- 电子系统-研究
- 中图法分类号:
- TN103
- 版本附注:
- 由Springer Science+Business Media授权出版
- 提要文摘附注:
- 本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程，全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势；单粒子效应发生机制与分类；JEDEC标准；门级建模与仿真；电路级和系统级单粒子效应建模与仿真；硬件故障注入；采用加速测试与错误率预估技术，评估验证面向空间或地面环境的集成电路；电路级软错误抑制技术；软件级软错误抑制技术；高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。
- 使用对象附注:
- 本书适用于高可靠抗辐射集成电器领域的研究人员和工程技术人员
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