- 题名/责任者:
- MEMS可靠性/(美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著 恩云飞, 贾玉斌, 黄钦文译
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2012
- ISBN及定价:
- 978-7-121-18805-3/CNY55.00
- 载体形态项:
- 13, 220页:图;26cm
- 统一题名:
- MEMS Reliability
- 丛编项:
- 国外电子与通信教材系列
- 个人责任者:
- 哈策尔 (Hartzell, Allyson L.) 著
- 个人责任者:
- 席尔瓦 (Silva, Mark G. da) 著
- 个人责任者:
- 谢伊 (Shea, Herbert R.) 著
- 个人次要责任者:
- 恩云飞 译
- 个人次要责任者:
- 贾玉斌 译
- 个人次要责任者:
- 黄钦文 译
- 学科主题:
- 微电子技术-可靠性-高等学校-教材
- 中图法分类号:
- TN4
- 中图法分类号:
- TN4
- 出版发行附注:
- 本书简体中文专有翻译出版权由Springer Science+Business Media授权
- 责任者附注:
- 责任者Hartzell规范汉译姓: 哈策尔 ; 责任者Silva规范汉译姓: 席尔瓦 ; 责任者Shea规范汉译姓: 谢伊.
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书是关于MEMS可靠性的一本专著，主要内容包括：用于寿命预测的可靠性统计理论，MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式，MEMS在使用中的失效模式，MEMS的失效根源及分析，MEMS的试验和鉴定标准，以及提升MEMS可靠性的工具和技术。本书的几位作者在MEMS可靠性方面拥有多年的学术研究经验和工业生产经验，所写内容具有较高的参考价值。
- 使用对象附注:
- MEMS领域的本科生、研究生
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